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全譜直讀光譜儀

全譜直讀光譜儀

簡要描述:NH-T5全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了日本濱松公司的CMOS信號采集元件,每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個數(shù),與光譜儀技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機(jī)設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

產(chǎn)品型號: NH-T5

所屬分類:NH-T5型全譜直讀光譜儀

更新時間:2024-11-15

詳細(xì)說明:

1.NH-T5全譜直讀光譜儀主要技術(shù)參數(shù)

應(yīng)用領(lǐng)域

冶金、鑄造、機(jī)械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。

可檢測基體

鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。

光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍

140~680nm

光柵焦距

401mm

探 測 器

高性能CMOS陣列/CCD陣列

光源類型

數(shù)字光源,高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)

放電頻率

100-1000Hz

放電電流

大500A

工作電源

AC220V 50/60Hz 1200W

儀器尺寸

780*565*360mm

儀器重量

約80kg

檢測時間

依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右

電極類型

鎢材噴射電極

分析間隙

4mm

其他功能

真空,溫度,軟件自動控 壓力,通訊監(jiān)測

2. NH-T5全譜直讀光譜儀主要技術(shù)特點(diǎn)

高性能光學(xué)系統(tǒng)

光學(xué)系統(tǒng)激發(fā)時產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光學(xué)室,實(shí)現(xiàn)光路直通,有效的降低光路損耗;

采用高精度的CMOS元件可準(zhǔn)確測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量;

測定結(jié)果準(zhǔn)確,重復(fù)性及長期穩(wěn)定性好。

自動光路校準(zhǔn)

自動光路校準(zhǔn),光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作;

儀器自動識別特定譜線與原存儲線進(jìn)行對比,確定漂移位置,找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定。

插拔式透鏡設(shè)計

真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作,光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),日常清洗維護(hù)方便快捷。

真空室一體化

*的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計,使真空室容積更小,抽真空時間僅普通光譜儀的1/2;

真空室一體化設(shè)計及高精密的加工,使真空保持的更加持久。

真空防返油技術(shù)

多級隔離的真空防返油技術(shù),采用真空壓差閥門保證真空泵不工作時真空光室與真空*隔離

中間增加了真空濾油裝置,確保真空泵中油不進(jìn)入真空室,保障CMOS檢測器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作。

開放式激發(fā)臺

開放式激發(fā)臺機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計,以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析;

配合使用小樣品夾具,線材低分析可達(dá)到3mm。

噴射電極技術(shù)

采用*的噴射電極技術(shù),使用鎢材料電極,在激發(fā)狀態(tài)下,電極周圍會形成氬氣噴射氣流,這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點(diǎn)周圍不會與外界空氣接觸,提高激發(fā)精度

配上*氬氣氣路設(shè)計,大大降低了氬氣使用量,也降低客戶使用成本。

集成氣路模塊

氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護(hù)設(shè)計,替代電磁閥和流量計,電極自吹掃功能,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。

數(shù)字化激發(fā)光源

數(shù)字激發(fā)光源,采用等離子激發(fā)光源,超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品;

全數(shù)字激發(fā)脈沖,確保激發(fā)樣品等離子體超高分辨率和高穩(wěn)定率輸出;

可任意調(diào)節(jié)光源的各項參數(shù),滿足各種不同材料的激發(fā)要求。

高速數(shù)據(jù)采集

儀器采用高性能CMOS檢測元件,具有每塊CMOS單獨(dú)超高速數(shù)據(jù)采集分析功能,并能自動實(shí)時監(jiān)測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài)。

以太數(shù)據(jù)傳輸

計算機(jī)和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議,避免電磁干擾,光纖老化的弊端,同時計算機(jī)和打印機(jī)*外置,方便升級和更換;

可以遠(yuǎn)程監(jiān)控儀器狀態(tài),多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)。

預(yù)制工作曲線

備有不同材質(zhì)和牌號的標(biāo)樣庫,儀器出廠時工廠預(yù)制工作曲線,方便安裝調(diào)試和及時投入生產(chǎn);

根據(jù)元素和材質(zhì)對應(yīng)的分析程序而稍有差異,激發(fā)和測試參數(shù)儀器出廠時已經(jīng)調(diào)節(jié)好,根據(jù)分析程序可自動選擇合適的測試條件;

技術(shù)規(guī)格中附有分析范圍(并可根據(jù)用戶提供標(biāo)樣免費(fèi)繪制或延長工作曲線)。

分析速度快

分析速度快,僅需20秒即可完成一次分析;

針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及測量時間,使儀器用短時間達(dá)到良好的分析效果。

多基體分析

光路設(shè)計采用羅蘭圓結(jié)構(gòu),檢測器上下交替排列,保證接收全部的譜線,不增加硬件設(shè)施,即可實(shí)現(xiàn)多基體分析;

便于根據(jù)生產(chǎn)的需要增加基體及材料種類和分析元素(無硬件成本)。

軟件中英文系統(tǒng)

儀器操作軟件*兼容于Windows7/8/10系統(tǒng);

軟件操作簡單,即使沒有任何光譜儀知識及操作經(jīng)驗的人員只需經(jīng)過簡單的知識培訓(xùn)即可上手使用。




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